新方案可预测太空集成微电路故障
2017年12月05日 文章来源：科技日报
俄国立核能研究大学“莫斯科理工学院”微电子和纳米电子部门的工作人员提出了一种新的技术方案，可以预测太空集成微电路的故障。
现代气象卫星、通信卫星和地球观测卫星在轨道至少应运行10年—15年，失常原因通常是机载电子设备发生故障。现在，集成电路元件尺寸缩小到纳米级别，这导致多种故障发生，比如，一个宇宙微粒可以同时在几个逻辑元件或存储单元引起错误，从而造成故障或不可逆的损坏。
为解决这一问题，研究团队发明了一种新方法，可以处理地面实验的结果，并计算出故障发生的频率，在技术和程序方面能对最新设计的现代纳米集成电路进行预测，从而有效避免其在太空中的多种故障。
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